基于加速寿命试验的晶体管静电放电潜在性失效的研究

对高频小功率硅双极结型晶体管2SC3356进行静电放电试验,并利用加速寿命试验原理对两组器件进行加速寿命试验。采用Arrhenius模型对试验结果进行计算分析,发现低于损伤阈值的ESD注入可以使器件的寿命缩短,得出ESD可以在高频小功率硅双极结型晶体管内部造成潜在性失效,使得器件寿命缩短。     

ESD对微电子器件造成潜在性失效的研究综述

静电放电(ESD)潜在性失效问题是当前微电子工业面临的可靠性问题之一,并且越来越引起人们的重视。国内外学者在微电子器件ESD潜在性失效的检测及探讨失效机理方面的研究取得了较大的进展。研究表明:MOS电路等微电子器件,在ESD作用下确实存在潜在性失效问题。因此,开展ESD潜在性失效研究具有重要意义。     

贪名也是腐败

电视剧《康熙微服私访记》中有个县官叫宋达安,自诩“宋龙图”,为图清官之名,定下规矩,凡告官者须送匾,而且视匾额的大小、词义的好坏来定官司的输赢。当听说钦差巡查时,竟办起了匾额陈列展,其贪名之心可见一斑。贪财贪色是腐败,而贪名则是一种隐蔽性和潜在性的腐败。从表面上看,贪名不以权、钱、色为目的,往往给人一种追求人生境界、体现人生价值、推动事业发展的错觉,不易识破,或短时间内不易察觉,但其危害则是深远的。贪名的表现形式主要有：