VLSI与电子系统的层次化可测性设计

论述了一种对电子系统VLSI自顶向下的层次化自动化测试方法及层次化自测试的概念和相应的可测试性设计结构,并讨论了数模混合集成电路的可测试性设计问题。     

反馈式内置自测试设计方案对比研究

对两种基于反馈的自测试（BIST）方案进行了比较研究,给出了串行反馈和并行反馈BIST方案的设计结构和操作模式。分析了它们的状态转移图的拓扑结构,并对若干电路做了模拟实验。研究表明:添加线沟通测试图生成和响应压缩部分所产生的串行反馈BIST方案性能更好。     

基于DSP的导弹发射控制通道检测系统研究

为了提高导弹发射控制系统的故障诊断能力和实时性,满足系统多通道检测的需要,研究了基于DSP的发射控制通道检测系统。该系统具有自测试功能,能够根据发控计算机指令完成多通道信号的采集、保存和上传。经测试,该系统运行稳定可靠,各功能达到发射控制系统要求。     

军用软件自测试实践与分析

随着军用软件规模和数量的不断增长及其在信息能力方面的提升,军用软件质量已成为确保军事工程质量的关键,而推行软件测试以提高军用软件质量更是成为紧迫之举。通过对军用软件自测试现状进行分析,以软件承制方的身份对某军用软件进行自测试,并将测试结果与专业测评机构三方测试的结果做对比分析,论述了军用软件自测试是保证军用软件质量的重要途径和必备手段。     

软件内建自测试中测试点的研究

“软件内建自测试”是软件测试和可测性设计研究领域中的一个新概念,其思想来源于硬件内建自测试BIST(Build-In-Self-Test),即模拟硬件BIST中的附加电路。在软件中也插入这样的一些“附加电路”,即测试点(CheckPoint),这样就大大减少了测试时的复杂度,其中测试点设置是软件内建自测试系统的核心模块之一。具体讨论了测试点设置策略、测试点个数,最后给出了一个具体的实现。     

内建自测试多特征混淆模型

特征分析广泛应用于内建自测试体系的响应分析中,通过建立多输入线性移位寄存器的2状态马尔可夫模型和4状态马尔可夫模型,研究了时间无关空间相关及时空均相关下的响应分析器测试序列长度与混淆概率关系,获得混淆的精确数学模型。通过对某控制系统单多特征内建自测试体系混淆结果比较表明:多特征分析可获得更小的混淆概率和更高的测试效率。