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为解决时统模块的测试问题,本文提出了一种基于CPCI总线的数字时统模块测量电路。文章主要对测量电路的组成、测量原理、CPCI总线接口设计与驱动设计等内容进行了介绍,并满足了4块某型时统模块的批量测试需求。文章提出的测量电路具有稳定性高、性价比高、易于实现等优点,适合于工程应用。 相似文献
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