首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  免费   0篇
  国内免费   1篇
  2006年   1篇
排序方式: 共有1条查询结果,搜索用时 156 毫秒
1
1.
为有效检测电路板焊接质量与器件质量,实现高精度的故障定位,提出了基于边界扫描技术与功能测试技术的解决方案。在显示产品设计中,开展可测试性设计,形成完整的边界扫描测试链;针对VRAM器件特点,提出了基于DRAM的测试方法,并设计相应的测试模型。最终,实现了对电路板的边界扫描测试,快速完成了对显示器件质量与焊接质量的有效检测。边界扫描技术与功能测试的结合,可以扩展边界扫描技术的应用范围,实现了更高的测试覆盖率。  相似文献   
1
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号