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本文提出了求多个测试序列极大距离的算法,该算法对数字电路的测试和软件测试技术是通用的。理论上看,该方法可以弥补随机测试和伪随机测试的缺陷。 相似文献
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将立方体分析和旁路攻击结合,基于8位汉明重泄露模型,首次对DES分组密码抗旁路立方体攻击安全性进行了评估．在黑盒攻击场景下,攻击者首先按照一定规则生成立方体和超多项式,然后利用不同选择明文,计算其在加密过程某比特的高阶差分,判断该立方体对应的超多项式是否合法．对DES加密输出第l轮输出不同字节进行了黑盒旁路立方体攻击实验,结果表明：未经防护的DES密码易遭黑盒旁路立方体攻击;如果攻击者能够精确获取加密第1轮输出某一字节的汉明重泄露,最好的攻击结果为2＾9.35个选择明文可将DES主密钥搜索空间降至2＾15． 相似文献
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面向对象的软件开发给测试带来了新的挑战,传统的测试技术不能直接用于面向对象的软件测试中,必须对其进行扩充和完善.类级测试是面向对象测试过程中的一个重要阶段,而类状态的测试是类级测试的核心.作者将扩充后的黑盒测试技术应用到类状态的测试过程中,可直接使用方法级的测试数据有效测试类中方法间的交互及其类状态的变化.最后,通过一个实例说明对类级状态的测试及其测试用例的生成. 相似文献
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