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电子系统电磁辐照效应实验研究
引用本文:谭志良,林永涛,张荣奇. 电子系统电磁辐照效应实验研究[J]. 军械工程学院学报, 2006, 18(4): 21-24
作者姓名:谭志良  林永涛  张荣奇
作者单位:军械工程学院强电磁场环境模拟与防护技术国防科技重点实验室 河北石家庄050003
基金项目:国家自然科学基金重点资助项目(50237040)
摘    要:以某复杂电子系统为研究对象,利用千兆瓦级超宽带(UWB)电磁脉冲辐射装置进行辐照效应实验,研究了在系统开门和关门状态下,系统内04、08号组合各检测点的响应以及接收天线在不同方位时02号组合检测点上的响应特性,并对响应波形进行了频谱分析。结果表明:在场强为2.0×104V/m的超宽带源(上升时间0.3 ns,脉宽3~4 ns)辐照时,开门的情况下系统内部电路上响应的电压有的达到1.6 kV,天线最佳耦合状态下系统02组合电路上响应的电压有的也达到1.6 kV,可能对电磁敏感器件造成损伤;系统开门和关门两种状态下,系统响应的带宽都在0~500 MHz左右,主频为70 MHz左右,远离系统的工作频率。所以,该频率电磁场并不是影响系统的主要因素,但是,过高的响应电压有时会形成带外耦合,干扰系统或造成硬损伤。

关 键 词:超宽带  电磁辐照  电子系统  频谱分析
文章编号:1008-2956(2006)04-0021-04
修稿时间:2006-01-10

Experimental Study of Electromagnetic Radiation Effect on Electronic System
TAN Zhi-liang,LIN Yong-tao,ZHANG Rong-qi. Experimental Study of Electromagnetic Radiation Effect on Electronic System[J]. Journal of Ordnance Engineering College, 2006, 18(4): 21-24
Authors:TAN Zhi-liang  LIN Yong-tao  ZHANG Rong-qi
Abstract:
Keywords:UWB  electromagnetic radiation  electronic system  spectrum analysis
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