| 基于功能块的分离测试生成 |
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| 引用本文： | 何新华,吕昌龄. 基于功能块的分离测试生成[J]. 装甲兵工程学院学报, 1996, 0(3) |
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| 作者姓名： | 何新华 吕昌龄 |
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| 作者单位： | 装甲兵工程学院计算机室，装甲兵工程学院计算机室 北京，100072，北京，100072 |
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| 基金项目： | 国家八五重点科技攻关项目 |
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| 摘 要： | 通过扩展电路分离描述模型,提出了一种含三态门结构和时钟线故障的层次测试生成策略,试图探求一种有效的、实用的时序电路测试生成方法。
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| 关 键 词： | 功能块 三态门 时帧 故障传播 回溯 |
Function Level-based Splitting Test Generation |
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| He Xinhua Lu Changing. Function Level-based Splitting Test Generation[J]. Journal of Armored Force Engineering Institute, 1996, 0(3) |
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| Authors: | He Xinhua Lu Changing |
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| Affiliation: | He Xinhua Lu Changing |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Functional block tri-gate time-frame fault propogation backtrace |
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