寿命试验持续时间的预测 |
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作者姓名: | 周莉 何友 邹慧超 |
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作者单位: | 1.海军航空工程学院;2.烟台师范学院 山东烟台 264001烟台师范学院山东烟台,264025;3.,山东,烟台,264001 |
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基金项目: | 高校骨干教师资助项目(No.3240) |
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摘 要: | 工程界中诸多电子元器件的寿命都可以看作或近似看作是服从指数分布的,只有经寿命试验掌握各类电子元器件寿命的分布情况,才能对整个电子系统的可靠度有较充分的认识,从而对整个电子系统中的电子设备进行合理布局,优化控制,使其在实际应用中最大程度地发挥其作用。分别给出服从单参数指数分布的样本在寿命试验的早期结果上预测寿命试验的总持续时间的精确与近似方法的证明,并对两种预测方法在不同情况下的预测结果进行比较。
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关 键 词: | 指数分布 寿命试验 预测区间 置信水平 |
文章编号: | 1002-0640(2005)03-0011-03 |
修稿时间: | 2003-08-18 |
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