| 高功率电磁环境下C4ISR系统接口电路的阈值实验 |
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| 引用本文： | 陶灵姣,吕承立,蔡士林,李智,柴焱杰. 高功率电磁环境下C4ISR系统接口电路的阈值实验[J]. 火力与指挥控制, 2010, 35(7) |
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| 作者姓名： | 陶灵姣 吕承立 蔡士林 李智 柴焱杰 |
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| 作者单位： | 第二炮兵工程学院,西安,710025;第二炮兵装备研究院,北京,100085;第二炮兵装备研究院,北京,100085;第二炮兵工程学院,西安,710025 |
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| 基金项目： | 十一五国防预研基金资助项目 |
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| 摘 要： | 采用非接触式电流脉冲注入法,设计了一种通用的接口电路实验模型和测试软件,进行了高功率电磁脉冲对指控系统接口电路的注入损伤实验,测量接口电路耦合电压和耦合电流,并对实验结果进行了分析.实验表明,强电磁能量耦合到电子装备和电气设备内部,可在其接口电路上产生过电压或过电流,从而使设备受到干扰和损伤.
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| 关 键 词： | 电磁脉冲 接口电路 耦合 敏感性 损伤 |
Threshold Value Experiment of C4ISR System Interface Circuit under High Power Electromagnetic Environment |
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| TAO Ling-jiao,Lü Cheng-li,CAI Shi-lin,LI Zhi,CHAI Yan-jie. Threshold Value Experiment of C4ISR System Interface Circuit under High Power Electromagnetic Environment[J]. Fire Control & Command Control, 2010, 35(7) |
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| Authors: | TAO Ling-jiao Lü Cheng-li CAI Shi-lin LI Zhi CHAI Yan-jie |
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