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| 2000年全国测试学术会议在我院召开 | |
| 作者姓名： | 宫云战 |
| 摘 要： | ２０００年全国测试学术会议（ＣＴＣ２０００）于１０月１６日～１８日在我院召开。全国人大常委陈俊亮院士和沈绪榜院士、魏道政研究员等我国测试领域著名学者出席了开幕式；香港中文大学教授吕容聪博士等４位测试领域国际知名学者应邀为大会作了４场精彩的学术报告，受到与会代表的普遍欢迎。 参加了本次学术会议的正式代表有１５０多位，分别来自中科院计算所、清华大学、上海大学、湖南大学、北京大学、同济大学、华为公司等单位。代表们分为测试理论及方法、ＩＣ及ＰＣＢ测试、自动测试系统技术、软件测试等４个兴趣组，听取了７０余… |
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