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| X射线透视对MOS电容性能的影响 | |
| 作者姓名： | 李斌 |
| 作者单位： | 基础部 |
| 摘 要： | 利用ＳＯＦＲＯＮＢＳＴ－１５０５Ｃ型Ｘ光机，对三种ＭＯＳ电参０、２８受Ｘ射线照射后的平带电压的漂移量进行测试和分析，从而分析Ｘ射一辐射后对ＭＯＳ电容器件的影响。 |
| 关 键 词： | X射线 MOS电容 电子元器件 |
| 本文献已被 维普 等数据库收录！ | |
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