| 可测试性技术中的图论问题及其求解 |
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| 引用本文： | 胡政,黎琼炜,温熙森. 可测试性技术中的图论问题及其求解[J]. 国防科技大学学报, 2000, 22(6): 105-108 |
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| 作者姓名： | 胡政 黎琼炜 温熙森 |
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| 作者单位： | 国防科技大学机电工程与自动化学院,湖南,长沙,410073 |
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| 基金项目： | 国家部委项目资助!(19.6 .5 .2 ) |
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| 摘 要： | 近 2 0年来 ,为了解决结构日益复杂的电路测试问题 ,可测试性技术得到了迅速发展。在可测试性技术中 ,针对不同的测试对象 ,如何对可测试性设计方案以及测试策略进行优化 ,降低总体代价 ,是亟待解决的问题。为了解决这两类典型的优化问题 ,首先应用图论方法建立问题的拓扑描述模型 ,然后通过构造相应的逻辑求解函数 ,给出问题最优解的求解算法 ,并通过简单实例演
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| 关 键 词： | 可测试性 优化 图论 算法 |
| 收稿时间： | 2000-06-09 |
| 修稿时间： | 2000-06-09 |
Two Topological Problems and Their Solutions in Testability |
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| HU Zheng,LI Qiongwei and WEN Xisen. Two Topological Problems and Their Solutions in Testability[J]. Journal of National University of Defense Technology, 2000, 22(6): 105-108 |
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| Authors: | HU Zheng LI Qiongwei WEN Xisen |
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| Affiliation: | College of Mechatronics Engineering and Automation, National Univ. of Defense Technology, Changsha 410073, China;College of Mechatronics Engineering and Automation, National Univ. of Defense Technology, Changsha 410073, China;College of Mechatronics Engineering and Automation, National Univ. of Defense Technology, Changsha 410073, China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | testability optimization topology algorithm| |
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