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基于自准直反射法的光学中心偏检测系统研究
引用本文:朱守深,陈海清,廖兆曙,曾文锋,黄卫东.基于自准直反射法的光学中心偏检测系统研究[J].军械工程学院学报,2006,18(5):19-22.
作者姓名:朱守深  陈海清  廖兆曙  曾文锋  黄卫东
作者单位:华中科技大学光电子工程系,华中科技大学光电子工程系,华中科技大学光电子工程系,武汉军械士官学校光指系,武汉军械士官学校光指系 湖北武昌430074,北京陆军航空兵学院机载设备系,北京通州101100,湖北武昌430074,湖北武昌430074,湖北武昌430075,湖北武昌430075
摘    要:提出了一种基于自准直反射法测量光学中心偏的检测方法,分析了其测量光学中心偏的基本原理,在此基础上设计了基于自准直反射法的光学镜组中心偏检测系统。系统采用CV-A1型CCD探测器组件,以轴向晃动≤1″、径向跳动≤1μm的高精度基准轴工作台配合PIV研华工控机进行数据采集和图像处理,系统测量精度为:角度≤2,″线度≤0.01 mm。实际应用表明,该系统适用于1.06μm激光探测系统光学镜组的在线装校及系统中心偏检测,也可用于其它光学系统中心偏的测量。

关 键 词:自准直法  反射法  光学中心偏  CCD  计算机图像处理
文章编号:1008-2956(2006)05-0019-04
修稿时间:2006年4月3日

Research on the Optical Decentration Measurement System Based on Autocollimating Reflection
ZHU Shou-shen.Research on the Optical Decentration Measurement System Based on Autocollimating Reflection[J].Journal of Ordnance Engineering College,2006,18(5):19-22.
Authors:ZHU Shou-shen
Institution:ZHU Shou-shen~
Abstract:
Keywords:autocollimating  reflecting  optical decentration  CCD  computer image processing
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