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用微型机控制的大规模集成电路测试系统
引用本文:
叶伟荣.用微型机控制的大规模集成电路测试系统[J].火力与指挥控制,1984(2).
作者姓名:
叶伟荣
摘 要:
随着大规模集成电路的迅猛发展,测试问题已变得越来越复杂,越来越重要。测试问题涉及到测试和计算机应用等多方面的技术。研制通用的大型测试设备,需要大量的人力、资金和器材。目前,国家花费许多外汇引进通用大型的测试设备,做为大规模集成电路的研制和计量手段。
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