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GPS-OEM板静电放电效应实验研究
引用本文:胡小锋,武占成,贾洪峰,刘尚合.GPS-OEM板静电放电效应实验研究[J].军械工程学院学报,2002,14(4):10-12.
作者姓名:胡小锋  武占成  贾洪峰  刘尚合
作者单位:军械工程学院静电与电磁防护研究所 河北石家庄050003 (胡小锋,武占成,贾洪峰),军械工程学院静电与电磁防护研究所 河北石家庄050003(刘尚合)
基金项目:国家自然科学基金资助项目 (5 0 0 770 2 4),国家科技重点实验室基金资助项目 (JB3 40 2 )
摘    要:研究了静电放电 (ESD)对GPS -OEM板性能的影响。以ESS - 2 0 0AX静电放电模拟器为静电源 ,采用人体 -金属模型对GPS -OEM板进行了静电放电效应实验。实验表明 ,ESD不会对GPS -OEM板造成硬损伤 ,但可以干扰其输出的秒脉冲 (PPS)信号 ,严重影响其定时和定位性能。

关 键 词:GPS-OEM板  ESD  抗扰性  秒脉冲
文章编号:1008-2956(2002)04-0010-03
修稿时间:2002年10月23

Experimental Study on Effects of ESD to a GPS-OEM Chip
HU Xiao-feng,WU Zhan-cheng,JIA Hong-feng,LIU Shang-he.Experimental Study on Effects of ESD to a GPS-OEM Chip[J].Journal of Ordnance Engineering College,2002,14(4):10-12.
Authors:HU Xiao-feng  WU Zhan-cheng  JIA Hong-feng  LIU Shang-he
Abstract:Based on ESD body-metal model, the experimental effects of ESD to a GPS-OEM chip have been studied by a ESS-200AX ESD simulator.The experiments show that ESD can't destroy the hardware of the GPS-OEM chip,but it can disturb pulses per second of the chip, and can disturb its timing and orientation performances seriously.
Keywords:GPS-OEM Chip  ESD  immunity  pulses per second
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