薄膜铂电阻温度传感器多股线束渐次屈服与断裂失效分析

薄膜铂电阻温度传感器内部导线多为多股线束绞合结构，在尺寸、缠绕结构和材料性能等方面存在分散性，造成导线在拉伸状态下表现出渐次屈服和断裂过程，增加了失效分析的难度。鉴于上述情况，在本文中设计并开展了多股线束拉伸实验来分析多股线束的渐次屈服和断裂机制，试验结果表明屈服点位移所服从的概率分布为N(0.52,0.021²),断裂点位移所服从的概率分布为N(21.91,0.751²)。同时，多股线束屈服点力的均值仅为断裂点力均值的36.23%,屈服点位移均值仅为断裂点位移均值的2.38%,其表明多股线束较快地从弹性阶段进入了屈服阶段，且屈服阶段用时相对更长，反映了多股线束渐次屈服和渐次断裂的特点。研究成果将为后续开展温度传感器的可靠性设计与优化改进提供理论依据。