首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   59篇
  免费   50篇
  国内免费   2篇
  2024年   1篇
  2023年   5篇
  2022年   1篇
  2021年   2篇
  2020年   1篇
  2019年   2篇
  2018年   3篇
  2017年   2篇
  2016年   5篇
  2015年   2篇
  2014年   2篇
  2013年   2篇
  2012年   7篇
  2011年   4篇
  2010年   3篇
  2009年   4篇
  2008年   7篇
  2007年   1篇
  2006年   9篇
  2005年   5篇
  2004年   4篇
  2003年   3篇
  2002年   4篇
  2001年   12篇
  2000年   4篇
  1999年   3篇
  1998年   3篇
  1997年   3篇
  1996年   1篇
  1993年   1篇
  1992年   2篇
  1991年   1篇
  1990年   1篇
  1989年   1篇
排序方式: 共有111条查询结果,搜索用时 0 毫秒
51.
将传输矩阵法(TMM)用于光子晶体传输特性的研究,采用Mur近似吸收边界和周期边界来截断计算区域,计算了以TM模正入射时,二维方格子光子晶体在完整周期结构下的透过率谱;在微波波段制作了光子晶体模型,并设计了实验装置,实验与数值模拟计算结果相符合;另外还研究了有损介质光子晶体、色散和吸收介质光子晶体的传输特性,及其对光子禁带的影响。  相似文献   
52.
研究非齐次边界条件下,含有p—Laplacian算子的微分方程解的存在性,应用上下解方法,得到边值问题可解性的充分条件.  相似文献   
53.
排水型方尾船加装尾板前后振动性能分析   总被引:1,自引:0,他引:1  
采用大型通用有限元分析软件和流体边界元方法,对某排水型方尾船加装尾板前后的总体振动特性和尾部振动响应进行了分析计算和比较,得出了加装尾板对该型船总体振动特性和尾部振动响应影响很小的结论.  相似文献   
54.
基于传统的Van Leer格式提出了一种改进的Van Leer(NVL)格式,解决了Van Leer格式在低马赫数下数值耗散过大,不能求解有粘流场等问题,同时保持Van Leer格式的计算效率.通过二维平板流动算例比较了NVL格式与传统Van Leer格式的数值耗散程度,并以NACA0012翼型的亚声速和跨声速流场以及M6机翼的跨声速流场求解为算例,与Roe格式和传统Van Leer格式进行比较,进一步验证了NVL格式的低耗散性和高效性.  相似文献   
55.
应用重节点法处理三维弹性力学角节点问题,采用等参变换插值逼近的方法离散边界积分方程,解决了由于角节点表面力不连续带来的方程求解困难问题。算例分析结果表明,该方法具有操作简单,计算方便,求解结果满足计算精度的要求等优点,尤其在角点存在应力集中场合更具优越性。  相似文献   
56.
针对电路板边界扫描测试中簇测试时间较长、测试效率较低问题 ,以并行测试思想为基础 ,提出了一种簇测试置入方案———交迭置入方案 ,并对其进行了理论分析和实验验证。结果表明 ,该方案是最优的簇测试置入方案 ,可以显著减小簇测试时间 ,提高簇测试效率  相似文献   
57.
针对等离子体粒子模拟中电磁场边界条件的选取问题 ,对简单吸收边界条件、Lindman边界条件、超吸收边界条件等进行了详细的讨论。结果表明 ,简单吸收边界条件计算量最小、误差最大 ,超吸收边界条件计算量最大、误差最小 ,Lindman边界条件误差较小且其反射系数对入射角的依赖性不大  相似文献   
58.
采用时间相关法求解二维 Navier-Stokes方程 ,数值模拟二维平板层流附面层与激波干扰流场 ,给出了物面压力分布和应力分布。计算中 ,对流项空间导数的差分离散采用高阶高精度 WENO格式 ,时间方向采用具有 TVD性质的 Runge-Kutta方法 ,粘性项采用二阶中心差分。所得压力分布和应力分布与国外实验结果吻合较好 ,计算实践表明高阶 WENO格式具有优异的性能 ,应用前景广阔  相似文献   
59.
讨论了平板翼流体动力边界积分法多重网格计算模型,给出了残差计算格式和函数修正值计算公式,推导出与步长无关的环量多重网格计算公式.计算结果表明,利用多重网格方法加快了收敛速度,其数值计算的流体动力与试验值吻合.  相似文献   
60.
边界扫描测试的数学描述模型   总被引:4,自引:0,他引:4       下载免费PDF全文
IEEE1149.1边界扫描机制是一种新型的VLSI电路测试及可测试性设计的有效方法,为了高效地应用边界扫描机制对电路系统进行测试,必须对其所涉及的理论方法进行深入探讨。本文应用布尔矩阵理论建立起边界扫描测试的数学描述模型,并基于所建立的模型导出了边界扫描测试中的故障检测条件和故障隔离条件。为边界扫描测试生成算法的深入研究奠定了理论基础。  相似文献   
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号