基于测试码并行的同步时序电路故障模拟方法

将组合电路故障模拟的一些加速技术推广到时序电路故障模拟中,提出并实现了一个功能块级的基于测试码并行的同步时序电路故障模拟方法,对部分ISCAS89 Benchmark电路的模拟结果表明,该故障模拟方法有较好的性能.     

特大规模组合电路高速测试生成系统ATGTA-1

针对特大规模组合电路和全扫描设计电路提出了一种高速测试生成方法，并建成了相应的测试生成系统ＡＴＧＴＡ－１。该系统采用有限回溯测试模式产生方法生成测试码，采用ｎ（机器字长）个测试码并行的单故障传播方法模拟验证测试覆盖。测试生成与故障模拟为ｎ对１紧耦合集成方式。该系统运行１０个Ｂｅｎｃｈｍａｒｋ电路，取得了低测试长度、高故障覆盖、高效率的良好效果。     

论四值动态代价分析方法

本文在文献[10]的基础上,着重论述了四值动态代价分析方法引进故障电路代价FC和故障可测度T的新概念的必要性。并从预报数字电路中的不可测故障、提高故障敏化效率和选取引线置值模式的效率三方面,对四值分析与文献[1]的二值分析进行了详细比较,结论是:四值分析定义的可测度比二值更接近数字电路实际,加速测试生成的效果更好。实践表明,四值分析用于自动测试生成系统ATGS,所节省的计算机CPU时间为二值分析的3倍。