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集成电路的广泛应用 ,使得电路向集成化、小型化的方向发展。同时也给电路的测试、维护带来不便。一些只需更换损坏的集成电路这样简单的事情 ,由于没有一种简单快捷的测试手段而使电路设备不能正常工作。目前现有的集成电路测试设备价格高 ,操作复杂。针对这种现状 ,研究开发了一种快捷方便、具有一定智能化的集成电路测试系统 相似文献
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