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1.
给出了一种基于最大后验概率候选集更换法的多故障诊断策略,并深入阐述了基于最大后验概率候选集更换法的形式化描述,分析了对单故障诊断和多故障诊断的计算模型,提出了基本的故障诊断算法——改进二进制粒子群算法,并对抽象实例进行验证,结果表明,采用改进
BPSO算法能有效地求解基于最大后验概率候选集更换法的多故障诊断问题。
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2.
介绍了边界扫描技术的基本原理,论述了板级电路测试性设计的思想,提出一种基于二进制粒子群算法的板级电路测试性设计最小化优化方法。实验结果表明,该算法在优化效果、运算时间上均获得了较好的结果。
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