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为解决时统模块的测试问题,本文提出了一种基于CPCI总线的数字时统模块测量电路。文章主要对测量电路的组成、测量原理、CPCI总线接口设计与驱动设计等内容进行了介绍,并满足了4块某型时统模块的批量测试需求。文章提出的测量电路具有稳定性高、性价比高、易于实现等优点,适合于工程应用。 相似文献
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本文在文献[10]的基础上,着重论述了四值动态代价分析方法引进故障电路代价FC和故障可测度T的新概念的必要性。并从预报数字电路中的不可测故障、提高故障敏化效率和选取引线置值模式的效率三方面,对四值分析与文献[1]的二值分析进行了详细比较,结论是:四值分析定义的可测度比二值更接近数字电路实际,加速测试生成的效果更好。实践表明,四值分析用于自动测试生成系统ATGS,所节省的计算机CPU时间为二值分析的3倍。 相似文献
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