| 遗传蚂蚁算法(GAAA)在数字电路智能测试中的应用 |
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| 引用本文： | 孙世宇,耶刚强,梁彦,潘泉.遗传蚂蚁算法(GAAA)在数字电路智能测试中的应用[J].火力与指挥控制,2007,32(11):137-140. |
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| 作者姓名： | 孙世宇 耶刚强 梁彦 潘泉 |
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| 作者单位： | 西北工业大学自动化学院,陕西,西安,710072 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金
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西工大青年基金
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西北工业大学校英才计划基金 |
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| 摘 要： | 随着VLSI设计规模的日益增大,对于电路的测试生成(Automatic Test Pattern Generation.ATPG)也有了新的要求.提出了一种基于遗传算法和蚂蚁算法融合的数字电路智能测试生成算法,克服了传统算法计算量大、需对电路逻辑有较深刻认识的缺陷,而且也避免了以往的遗传算法和蚂蚁算法容易陷入局部最优的不足.研究表明这种算法效果较同类其他算法好,而且在大规模电路中尤能显示其特点.
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| 关 键 词： | 遗传算法 蚂蚁算法 测试生成 数字电路 基于遗传算法 蚂蚁算法 数字电路 智能 测试生成 应用 Ant Algorithm Genetic Algorithm based Digital Test Generation 显示 大规模 效果 研究 最优 局部 缺陷 认识 逻辑 |
| 文章编号： | 1002-0640(2007)11-0137-04 |
| 修稿时间： | 2006年2月15日 |
Intelligent Test Generation for Digital Circuits based on Genetic Algorithm and Ant Algorithm |
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| SUN Shi-yu,YE Gang-qiang,LIANG Yan,PAN Quan.Intelligent Test Generation for Digital Circuits based on Genetic Algorithm and Ant Algorithm[J].Fire Control & Command Control,2007,32(11):137-140. |
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| Authors: | SUN Shi-yu YE Gang-qiang LIANG Yan PAN Quan |
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