共查询到19条相似文献,搜索用时 140 毫秒
1.
新兴的三维静态存储器将代替二维静态存储器被广泛用于高性能微处理器中,但它依然会受到软错误的危害。为了能够快速、自动分析多层管芯堆叠结构的三维静态存储器软错误特性,搭建了三维静态存储器软错误分析平台。利用该平台对以字线划分设计的三维静态存储器和同等规模的二维静态存储器分别进行软错误分析,并对分析结果进行对比。研究结果表明二维和三维静态存储器的翻转截面几乎相同,但三维静态存储器单个字中发生的软错误要比二维静态存储器更严重,导致难以使用纠检错技术对其进行加固。静态模式下二维和三维静态存储器敏感节点均分布于存储阵列中,表明静态模式下逻辑电路不会引发软错误。 相似文献
2.
动态测试技术在设备故障诊断中起着重要的作用.介绍了动态测试技术的特点、优势,详细论述了动态测试方法、测试平台和技术实现.实践表明,动态测试对于准确判定各种通常静态检测难以发现的瞬态故障或过渡过程异常等质量问题,提高质量检测的置信度具有重要的意义. 相似文献
3.
软件的静态分析在很大程度上是对编写软件的语法和文本进行检查,使其符合工程项目的需要.使用C Test可以帮助编程人员和测试人员完成对程序的自动静态测试.测试人员还可以自定义检查规则来完成对代码的特定需求检查. 相似文献
4.
5.
通抗装备内场静态试验仿真技术初探 总被引:1,自引:0,他引:1
本文对通抗装备的内场静态试验进行了分析,提出了一种基于系统仿真技术的测试手段和性能评估方法。运用层次分析法,构造装备内场静态试验的层次模型,并采用功效系数与加权系数相结合的方法来综合评估被试装备的性能指标。 相似文献
6.
7.
8.
9.
基于三维集成电路技术实现的三维静态随机存储器,其电路中使用了大量的过硅通孔。目前过硅通孔制造工艺尚未成熟,使得过硅通孔容易出现开路或短路故障,从而给三维静态随机存储器的测试带来新的挑战。现有的过硅通孔专用测试方式虽然能够探测出过硅通孔的故障,但需要特定的测试电路来实现,这就增加了额外的面积开销,同时加大了电路设计的复杂度。因此,提出一种使用测试算法来探测过硅通孔开路故障的方法。在不增加额外面积开销的情况下,通过内建自测试电路解决三维静态随机存储器中过硅通孔的开路故障检测问题。结果显示,该过硅通孔测试算法功能正确,能够准确探测到过硅通孔的开路故障,并快速定位过硅通孔的开路位置。 相似文献
10.
《军械工程学院学报》2014,(5)
通过分析某型稳压保护单元的功能、电路组成和动态性能特点,研究该单元的检测项目、测试要求和工作环境模拟方法,提出了稳压保护单元的离线检测方案和实施方法,并利用模拟仿真、传感器技术和数据采集卡,建立智能检测的硬件电路及软件结构,实现了对稳压保护单元进行静态电位、动态调节性能及特殊条件工作状况的离线测试.通过进行离线测试和实时监控,达到了准确记录和分析测试结果、判断故障部位和评价整体性能的效果,能满足稳压保护单元的技术保障需求. 相似文献
11.
12.
13.
在加速度信号的路面不平度测量过程中,由于测试轮的几何外形对路面的滤波作用,会对功率谱密度的测量产生误差。为解决这一问题,在仿真环境下,通过测量在给定路面等级的随机路上行驶的测试装置测试轮的响应,研究不同直径的测试轮对同一路面不平度的滤波作用,分析其影响关系,从而为路面不平度测试装置测试轮轮径的选择提供参考。 相似文献
14.
15.
光纤陀螺的输入轴失准角温度变化特性是光纤陀螺惯性系统正交校准所面临的主要难题。提出了一种有效地消除输入轴失准角测量误差的测试方法;对三只椭圆环结构的光纤陀螺进行了输入轴失准角温度特性研究。结果表明,三只椭圆环光纤陀螺的输入轴失准角分布比较集中;此外,椭圆环光纤陀螺的输入轴失准角随着温度变化呈非单调的曲线变化,高温过程的变化速度相对较快。该结论对光纤陀螺环制作工艺的改进提供了测试依据,并有助于惯性系统正交校准的温度补偿技术研究。 相似文献
16.
17.
18.