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现代电子设备中,广泛使用大规模集成电路,具有总线结构。原来单靠硬件完成的任务,现在通过软硬件结合的方式实现,而且功能越来越丰富、速度越来越快。再用传统的万用表、示波器等测试仪器去发现并解决遇到的问题显然已力不从心。所以就要求检测、诊断技术不断跟进。随着计算机技术的迅猛发展,国外及国内的公司已经开发出了多款虚拟逻辑分析仪。它将计算机强大的数据运算、处理、人机交互能力和传统逻辑分析仪强大的数据采集能力有效结合在一起,可以得到相关电路多个采集点的时序及状态的真实有效数据, 为进行深入的测试奠定了基础。 相似文献
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集成电路ESD注入损伤效应及注入电压与能量间的关系 总被引:4,自引:0,他引:4
利用静电放电(ESD)模拟器对集成电路芯片进行电压注入损伤效应实验,通过存贮示波器记录的波形进行乘法和积分运算,得到对应注入电压下芯片上吸收的平均峰值功率和能量。对放电电压与平均峰值能量作散点图,采用曲线拟合的方法对离散点进行拟合,针对该曲线拟合的方法进行了分析,最终建立了ESD注入电压与平均峰值能量之间的数学模型。 相似文献
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