存储测试系统的可靠性分析

可靠性分析对提高系统的可靠性有着极其重要的意义.针对存储测试系统存在的失效现象,从半导体器件本身、焊接工艺和封装工艺进行了失效机理分析,提出了相应的改进措施.在此基础上,结合本系统的实际使用要求,提出了半导体器件的可靠性筛选规程.阐述内容对其他电路系统可靠性的提高也具有一定的参考价值.