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1.
组件单元失效下的相控阵雷达暴露区研究
周志增
刘洪亮
顾荣军
侯少岭
《现代防御技术》
2012,40(6)
相控阵雷达组件单元失效会引起副瓣电平和天线增益的恶化,失效单元超过一定数量会严重影响到雷达的性能.详细讨论了单元失效对雷达天线副瓣、增益以及目标信号相参积累的影响.同时,结合某相控阵雷达天线模型,对外界存在有源干扰时的雷达暴露区进行了仿真分析.可以看出,单元失效使雷达副瓣电平抬高,进而导致雷达暴露区明显缩小.
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