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1.
集成电路方波脉冲注入损伤效应实验研究   总被引:3,自引:0,他引:3  
为了得到各损伤参数随脉宽的变化规律,寻找建立评价复杂EMP波形对集成电路损伤模型的依据,对2种典型的集成电路器件进行了方波脉冲注入损伤实验。结果表明:RAM6264损伤电压、电流及功率均随脉宽增大而减小,损伤能量处于某一小范围之内,可能属于能量损伤型器件;BG305损伤电压、功率随脉宽增大而减小,损伤能量随脉宽增大而增大,损伤电流处于某一个小范围之内,可能属于电流损伤型器件。  相似文献   
2.
对空气静电放电的频域研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
利用辐射电磁场的推迟势方程对空气静电放电的电磁场频谱进行了理论推导,对放电电流峰值和金属小环上的耦合电压峰-峰值进行了测量,使用数字存储示波器记录了放电电流和耦合电压的波形。利用测量结果对静电放电的电磁场频谱进行了理论计算,比较了不同放电电压下耦合电压的幅度谱和功率谱,结果表明:空气静电放电的能量主要集中在直流到2.0 GHz的频段内。  相似文献   
3.
采用方波脉冲和ESD脉冲对3种集成电路进行了注入损伤效应实验,目的是比较二者对器件损伤的异同之处。分析时,首先对实验数据作拟合分析,建立起相关的数学模型,然后将模型值和实际值进行比较。可得到结论:实验器件有高压强场致PN结击穿和热效应2种损伤模式。对同一种器件,2种注入方式下的损伤模式相同或类似。方波注入下,各损伤阈值参数可拟合为1个式子来描述它们之间的关系,ESD注入下则还不确定;对同一器件,不同注入方式下的阈值不同,目前结果表明相差2~3倍。  相似文献   
4.
战场电磁环境效应对信息化战争的影响   总被引:21,自引:1,他引:20  
信息化武器装备中的电子设备所占比例不断增加以及未来战场上电磁环境的不断恶化是一个不争事实,这也是信息化战场上的一对突出矛盾。战场电磁环境将通过对电子设备以及武器装备所发生的物理作用,进而对未来信息化战争的全局或联合战役的实施产生一系列影响。电磁兼容性和电磁防护能力是信息化武器装备在电磁环境下的生存能力和作战能力的基本要求,必须在立法、科研和质量等方面解决好相关问题。  相似文献   
5.
在综述ESD测试和抗扰度试验研究状况基础上,指出该研究领域当前需要进一步研究的问题和发展方向。静电放电的深入研究对现代电子设备(系统)的快速发展具有十分重要的意义。  相似文献   
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