星载高光谱图像实时处理系统

为适应星载高光谱成像仪输出数据率越来越高的需求,设计了一种基于模块化的、软硬件结合的高光谱图像实时处理系统。该系统由一个主控模块(MM)和若干个实时高光谱图像处理子模块(SM)组成,对软硬件处理流程进行了合理划分。在充分考虑系统所需选用的DSP和FPGA芯片下,给出了主控模块与子模块的设计方法及原理框图。该系统可等效为一个二维网孔型并行模型,具有很高的并行性和加速比,具有实现实时高光谱图像处理的能力。并且该系统具有很强的适应能力,可满足不同星载高光谱成像仪的需求。     

Cρ 准则下选择最优子集的并行算法

C_p准则是目前颇受重视的一种变量选择准则。本文针对大型线性回归模型,推导了从所有可能子集中用C_p准则选择最优子集的(乘除法) 运算次数,提出了C_p准则下变量选择的并行算法。给出了在YH-1和YH-2向量巨型计算机上运行该算法的模拟结果且获得了15倍左右的向量加速比s/v,体现了该算法的优越性。     

加速寿命试验的相关性研究

阐述了加速贮存寿命试验与自然贮存试验相关性的概念。讨论了几种常用的相关性评价方法,并用实例进行了相关性计算与分析。     

某型引信压电陶瓷加速老化试验

压电陶瓷作为压电引信的关键元件,其贮存可靠性至关重要。为研究贮存对压电陶瓷性能变化的影响,进行了历时176天的某型引信用压电陶瓷加速老化试验。根据试验结果研究了陶瓷的压电参数随试验条件和老化时间变化的规律,探索了压电陶瓷的贮存可靠性和可靠贮存寿命。     

略论军费的经济效应

军费增长与经济增长之问是一种什么关系?运用不同的理论可得出不同的结论。本文认为,军费具有乘数效应而缺乏加速效应,但在评价军费的经济效应时应注意到军费增长也会带来间接的国防工业的加速效应。     

对数正态分布加速因子的Bayes估计

基于对数正态分布形式以及分布对数标准差不变的条件,运用Bayes方法对对数正态分布加速寿命试验条件下的加速因子进行分析。首先基于全寿命试验数据和随机变量函数分布的理论推导出加速因子的先验分布;然后由Bayes公式结合少量的现场截尾试验数据,得出加速因子的Bayes估计模型;最后给出实例进行说明。     

基于PCI总线的多路数据总线接口设计与实现

提出了一种主处理机可以直接控制的1553B总线接口模块的设计与实现方案,并简要介绍了其硬件结构、工作过程和软件开发.利用PCI协议芯片实现PCI局部总线与军用1553B总线的桥接,采用WDM技术编写驱动程序.所设计的总线接口模块符合MIL-STD-1553B总线标准,具有结构简单、成本低廉、操作方便等特点,可用于仿真,开发1553B总线产品.     

ARM系统中对CAN控制扩展的实现方法

基于ARM技术的处理器已经普遍应用于工业控制、汽车电子等各个领域.CAN总线也已广泛应用于这些领域,但大多数常用的ARM9系列芯片还没有在片内集成CAN总线的控制器,使得不得不在板级进行扩展.选用飞利浦的SJA1000器件作为CAN总线控制器在ARM系统中进行扩展,给出了两种通过总线扩展的实现方法,即通过CPLD转换时序的方法和双周期读写模拟方法,并对后者的实现方法做了详细论述.最后对CAN总线Linux下的驱动移植做了简要介绍.     

一种新的双应力加速寿命试验研究（Ⅱ）——统计分析篇

围绕双应力交叉步降加速寿命试验的统计分析问题进行讨论,首先对统计分析的条件进行了假定,然后在指数分布场合下对统计分析具有关键作用的数据折算问题进行了探讨,给出数据折算的公式及折算过程中参数估计问题的求解算法,最后利用仿真试验数据进行验证,结果表明该统计方法用于双应力交叉步降加速试验是有效的.     

序降应力加速寿命试验(上)——试验分析篇

加速寿命试验是高可靠长寿命型产品的量化评估的重要途径,广泛应用于武器装备的定寿延寿课题中。为了进一步提高加速寿命试验的效率,提出一种新的试验方法——序降应力加速寿命试验。通过理论模型建立、试验数据分析和蒙特卡罗仿真对该方法的有效性进行分析。研究结果表明,在相同的试验环境下序降应力加速寿命试验方法不但能大幅度提高试验效率,同时还能提高试验分析精度。因此,在武器装备的定寿延寿课题中,序降应力加速寿命试验值得推广。