65 nm工艺双层三维静态存储器的软错误分析与评估

新兴的三维静态存储器将代替二维静态存储器被广泛用于高性能微处理器中,但它依然会受到软错误的危害。为了能够快速、自动分析多层管芯堆叠结构的三维静态存储器软错误特性,搭建了三维静态存储器软错误分析平台。利用该平台对以字线划分设计的三维静态存储器和同等规模的二维静态存储器分别进行软错误分析,并对分析结果进行对比。研究结果表明二维和三维静态存储器的翻转截面几乎相同,但三维静态存储器单个字中发生的软错误要比二维静态存储器更严重,导致难以使用纠检错技术对其进行加固。静态模式下二维和三维静态存储器敏感节点均分布于存储阵列中,表明静态模式下逻辑电路不会引发软错误。     

基于时频分析的数字射频存储干扰信号检测

采用数字射频存储器进行信号采集、存储和复制成为干扰脉冲压缩雷达的重要手段.由于传统的时域和频域分析方法不能准确检测线性调频干扰信号,引入了短时傅立叶变换时频分析方法以识别数字射频存储器复制的干扰信号.试验结果表明,该方法可有效识别基于数字射频存储器复制的线性调频干扰信号.     

基于改进March SS算法的存储器测试技术研究

摘要：针对存储器的特点,介绍了存储器简化的功能故障模型．基于一种既可以测试静态简化故障又可以测试动态简化故障的MarchSS算法,提出了一种改进的存储器测试算法MarchSSI算法．该算法不仅能测出MarchSS算法测试的所有功能故障,而且能够覆盖MarchSS算法遗漏的故障,使算法故障覆盖率有了一定的提高．通过仿真,验证了算法的可行性．     

阻变存储器发展现状

在纳米电子器件时代,来自量子隧穿和电容耦合等问题的挑战,使得Flash半导体存储器的发展遇到瓶颈。阻变存储器是忆阻器在二值情况下的特殊应用,因其结构简单、高密度、高速、低功耗、与CMOS工艺兼容以及具备三维集成能力,成为最具发展潜力的下一代非易失存储技术之一。在国内外学者的共同努力下,阻变存储器的研究已经取得了诸多突破性的进展。本文主要综述阻变存储器的发展历程、材料体系和阻变机理,并总结展望了阻变存储器进一步发展的优势和面临的挑战。     

闪烁存储器(FLASH)Am29LV400B及其在DSP系统中的应用

本文主要讨论了闪烁存储器(FLASH)Am29LV400B的结构原理及其在DSP系统中的使用方式。通过一个工程实例:以FLASH为应用程序和初始化数据的存储器,通过系统的外部并行自举方式将程序和数据搬移到程序存储空间运行,并介绍了FLASH存储器的优点和软硬件设计中应注意的一些问题。     

面向SDR应用的向量存储器的设计与优化

针对面向SDR应用的SIMD数字信号处理器高带宽数据访存需求,提出并实现了一种新型的向量存储结构.该向量存储器由16路向量存储块构成,每路采用两组多体低位地址交叉编址存储结构,减少了访存体冲突,充分利用多存储体带宽,以较小的功耗代价实现并行访问多个向量数据.在此基础上,还设计了一种向量访存重整理单元,使向量存储器可灵活支持多路SIMD结构向量处理单元的非对齐访问,实现了其对向量存储器的共享.测试结果表明,该向量存储器能有效减少或消除向量处理单元之间的数据混洗操作,加速相关应用算法.     

基于并行流水的转发引擎设计与性能分析

光通信技术对核心路由器报文转发能力不断提出更高的要求。10Gbps光传输技术已经使现有的各种软硬件路由查找方法成为核心路由器转发能力的瓶颈,而更高性能的光传输技术则已经突破了存储器访问速度的极限,使得基于单片存储器的路由转发方法无法应付未来日益增长的需求。在硬件存储器价格非常低的前提下,提出一种使用多个存储器并行流水查找的硬件转发实现结构。通过使用Internet上真实报文数据进行的性能模拟可以看出,随着并行度的增加,整个转发结构可以获得近似于线性的性能加速比。     

数字射频存储器的旋转状态下GPS信号接收

目前国内对于GPS的应用大多是基于OEM板进行二次开发,无法对GPS信号进行深层次的分析和处理.主要研究基于数字射频存储器(DRFM)解决旋转状态下GPS信号的跟踪和定位问题,并利用Zarlink产品设计芯片级GPS接收机.介绍了数字射频存储器和GPS接收机的基本原理,提出利用数字射频存储器对GPS信号进行存储和处理,解决在某型火箭弹飞行旋转状态下GPS接收机的跟踪和定位问题.最后基于Zarlink公司芯片设计了GPS接收机.     

磁泡存储器的军事应用

六月份,Intel公司和Miltope公司达成了一项初步协议,共同设计和生产军用盒式磁泡存储器,这种标准的磁泡存储器将满足Mil—E—5400,Mil—E一16400,Mil—E—4158及Mil—T—21200规格要求。军事用户是最早认识到磁泡存储器具有优越存储功能的用户之一。磁泡存储器之所以受欢迎的原因主要有下述两点:(1)在各种恶劣的军事条件下,具有很高的可靠性;(2)寿命长,易维护。及现今的磁泡技术可生产平均故障间隔时间达几年     

基于程序特征分析的流处理器VLIW压缩技术与解压实现

代码体积和代码稀疏是VLIW处理器一直存在的问题.通过对一系列典型应用在流处理器上的程序特征进行分析,提出了一种新的VLIW分域压缩技术,剔除各个子域中的空操作,并设计了分布式指令存储器对压缩后的代码进行解压缩执行.实验证明,该技术能够减少MASA流处理器中近39％的片外指令访存,降低约65％的片上指令存储器空间需求;同时使得指令存储器面积和系统面积分别减少了约37％和8.9％.     

基于FPGA的模数混合采集存储系统

叙述了一种基于FPGA的模数混合采集存储系统的设计,以XILINX公司sparten2系列的xc2s100芯片为主控单元,结合相关外围电路和SAMSUNG公司的FLASH存储器,系统实现了8路模拟信号和1路数字量信号的采集,再进行相应编码并混合存储在FLASH存储器中.     

卫星固态存储器数据容错设计与机制

卫星数据传输系统的可靠性面临着空间粒子效应、信道干扰等多重威胁。在介绍数据传输系统关键设备星载大容量固态存储器设计与实现的基础上,从管理信息、数据位流、星地链路、文件传输四个方面构建容错机制,综合应用汉明编译码、RS编译码、低密度奇偶校验码编码等数据检纠错技术,增强存储器管理信息、存储数据、信道传输的容错性能。在实际型号任务固态存储器的基础上,结合CCSDS文件传输协议提出基于自动重传机制的文件可靠传输设计,提高数据传输全流程的容错性能。固态存储器使用多级流水写入、总线并行扩展等技术,吞吐率理论上接近900Mbps,容量达到256Gb。     

光盘存储器的技术特点及应用

本文对光盘存储器的类别、技术特点和应用范围进行了介绍,重点论述了DVD的物理结构及数据读取特点.     

可穿戴计算机人机对话零距离

三、技术特点 1、基本类型:五花八门 可穿戴计算机对人们来说其实并不陌生。从宽泛的概念来看,近年来为人们所熟悉的U盘、PDA、MP3和手机都是可穿戴计算机的一种。它们实现了可穿戴机的部分功能,U盘类似于可穿戴机的CF机存储器;PDA就是一个小的掌上电脑;而MP3已经具备了处理器与存储器;手机也是一个有处理能力的随身佩戴的计算机。     

用于DDR3访存优化的数据缓冲机制

为提高DDR3控制器访存效率,设计了基于DDR3存储器预取访问数据长度的数据缓冲机制,将访存请求分为三种基本类型并分别排队处理,降低数据丢弃和实际动态随机访问存储器访问发生次数。针对图像和视频类应用程序的实验结果表明,相对于传统先到先服务的DDR3访存控制器,该机制取得了平均21.3%、最好51.3%的性能提升,硬件开销在可接受范围内。     

3D SRAM中TSV开路测试算法研究与实现

基于三维集成电路技术实现的三维静态随机存储器,其电路中使用了大量的过硅通孔。目前过硅通孔制造工艺尚未成熟,使得过硅通孔容易出现开路或短路故障,从而给三维静态随机存储器的测试带来新的挑战。现有的过硅通孔专用测试方式虽然能够探测出过硅通孔的故障,但需要特定的测试电路来实现,这就增加了额外的面积开销,同时加大了电路设计的复杂度。因此,提出一种使用测试算法来探测过硅通孔开路故障的方法。在不增加额外面积开销的情况下,通过内建自测试电路解决三维静态随机存储器中过硅通孔的开路故障检测问题。结果显示,该过硅通孔测试算法功能正确,能够准确探测到过硅通孔的开路故障,并快速定位过硅通孔的开路位置。     

光栅扫描雷达显示中的余辉模拟

在光栅扫描雷达显示系统中,模拟随机扫描雷达显示系统中的余辉效应是新式雷达尚待解决的一个重要问题。本文讨论了新型的光栅扫描体制的雷达显示系统以及怎样实现余辉效应的方法。以伪随机序列为理论基础,用移位寄存器构成一个随机地址发生器,用高速只读存储器ＰＲＯＭ查询数据,对视频存储器ＶＲＡＭ进行读改写过程,使视频数据递减,以达到模拟随机扫描雷达的余辉效应,起到了良好的仿真效果。     

IC卡技术及其发展趋势

在讨论比卡的分类和特点的基础上，进一步分析了智能卡的安全问题和片内操作系统(COS)，探讨了IC卡的最新发展趋势——双界面CPU卡，并且提出了它在电力来源、非接触信号的转换、封装和安全等方面的技术难点，这对于我们增强和普及双界面CPU卡的应用具有十分重要的意义。另外，还提出了以铁电存储器作数据存储器的IC卡、JAVA卡、移动电话卡和多功能卡等是未来IC卡的发展方向。     

TMS320C31系列讲座(3)——第三讲 TMS320C31系统的硬件设计方法

本文介绍了采用TMS320C31构成DSP系统的硬件设计方法。着重介绍了用EPROM实现的外部存储器自引导程序装入方式的设计方法。     

利用脉冲激光的片上系统芯片单粒子效应试验

为评估脉冲激光试验对研究SoC(片上系统芯片)单粒子效应的有效性,构建了一个65 nm SoC的脉冲激光试验系统,并进行了试验。提出并采用坐标定位法、有源区聚焦法、ΔZ补偿法等针对大规模倒装焊集成电路的试验方法。对SoC的片上存储器、寄存器文件、RapidIO、DICE触发器等部件进行了脉冲激光试验和分析。结果表明:片上存储器对脉冲激光最为敏感,部件的激光试验与相应的重离子试验现象吻合,利用脉冲激光试验可有效研究纳米工艺下大规模集成电路的单粒子效应。