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针对巡航导弹定型试验发数少、验前试验信息源多的特点,提出小子样条件下,通过可信性检验分别得到每个验前信息源的可信度,在导弹落点偏差分布为正态-逆伽马分布的假设下,获得评估的验前分布参数,选择基于可信度的加权方法对多源验前信息进行融合,采用Bayes估计方法得到命中精度。最后结合实例进行仿真,说明了该方法较传统的Bayes方法更稳健,很适合巡航导弹命中精度的评估。 相似文献
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通过对导弹落点散布的构造性仿真获得了落点(均值与方差)的验前分布参数,通过与现场试验数据的相容性检验获得了验前信息的可信度,在考虑验前信息可信度的情况下获得了命中点的均值与方差的验后Bayes估计。算例表明该方法对于仿真信息的应用合理可信,考虑可信度下的Bayes估计具有较好的置信度。 相似文献
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针对武器系统试验常常具有小子样的特点,分析推导了MTBF检验的Bayes方法,论述了MTBF的Bayes估计方法,并举例进行了计算分析。 相似文献
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为利用仿真模型在有限校射样本的条件下对校射补偿量进行合理估计,对考虑仿真可信度的舰炮虚拟校射方法进行了研究。对自适应加权贝叶斯估计方法进行了研究,一方面对仿真先验可信度的计算方法进行了分析,另一方面对考虑先验可信度的自适应加权贝叶斯估计算法进行了研究。在此基础上,结合舰炮虚拟校射的原理和需求,建立了舰炮虚拟校射诸元误差自适应加权贝叶斯估计模型。仿真验证表明:自适应加权贝叶斯估计方法能够利用试验数据对仿真模型的可信度进行有效验证并进一步实现对目标分布的有效估计;所设计的校射方法能够综合利用仿真模型和校射样本的优势,实现对诸元误差的合理估计,达到有效提高校射精度的目的。 相似文献
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张金槐 《国防科技大学学报》1993,15(4):1-9
本文研究再入飞行器的落点准确度(系统性偏差)的检验和估计方法。首先,文中引入了准确度的容许限的概念,在此基础上给出了Bayes验后加权概率比检验方法。关于落点系统偏差的估计,讨论了Bayes估计方法及带有约束的Bayes估计方法。文中注意了充分运用试验前的信息,以便使落点系统偏差的评估能在小子样场合下进行。 相似文献
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小子样条件下,不同状态的多源信息融合是可靠性工程领域的一个热门问题。综述了小子样条件下可靠性试验信息的融合方法。在一定的假设条件之下,利用分离可交换量模型对不同环境下的可靠性信息融合方法进行了研究,仿真算例说明这种融合方法充分利用了信息,评估结论更为合理。 相似文献
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验前信息在射击精度评估中的应用 总被引:1,自引:0,他引:1
验前信息的获取与合理应用是Bayes方法在武器系统射击精度评估中的关键。对验前信息的获取、验前信息的可信度及其计算进行了阐述,提出了考虑验前信息可信度的射击精度Bayes评估新方法,为武器系统射击精度评估提出了新思路。 相似文献
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以某远程武器射击密集度鉴定问题为对象,研究了运用Bayes 理论从仿真试验数据中提取有用信息,从而实现在少量试验样本情况下有效完成射击密集度试验鉴定任务的方法.将最大熵法应用于射击密集度估计,介绍了运用自助(Bootstrap)法从仿真试验结果中获取验前信息的基本思想和一般方法,以及在获得验前信息后结合现场试验样本进行射击密集度鉴定的方法. 相似文献
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为解决指标权重信息不完全时的机载雷达作战效能评估问题,提出了一种评估模型。对专家关于指标权重给出的残缺判断矩阵,给出了其一致性评判标准。结合残缺判断矩阵的最佳一致性比例,构造了一个单目标优化模型,用于计算指标权重。在此基础上提出了权重信息不完全的机载雷达作战效能评估模型。最后给出一个实例验证了评估模型的有效性。 相似文献
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为解决目前舰炮武器系统可靠性试验时间长、样本量小、双方风险高的实际问题,提出了基于验前信息评定舰炮武器系统可靠性MTBF的Bayes方法,充分挖掘了验前信息资源,有效缩短了试验时间,经仿真计算表明,在同等现场试验条件下,采用该方法可大幅降低可靠性试验双方风险。 相似文献
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为解决小子样条件下进行产品固有可用度试验验证的问题,基于Bayes理论,提出了一种固有可用度定时截尾试验方案.该试验方案在假设故障间隔时间和修复时间均服从指数分布的前提下,将现场试验分为同时进行的可靠性和维修性定时截尾试验2个部分,要求在利用验前试验信息的基础上,使本次试验获得的验后分布还可以作为下一次现场试验的验前分布,提高了试验数据的利用率,具有较好的经济效益. 相似文献
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《防务技术》2020,16(2):392-400
The optocoupler is a weak link in the inertial navigation platform of a kind of guided munitions. It is necessary to use accelerated storage test to verify the storage life of long storage products. Especially for small sample products, it is very important to obtain prior information for the design and implementation of accelerated degradation test. In this paper, the optocoupler failure mechanism verification test is designed and the experimental results are analyzed and the prior information is obtained. The results show that optocouplers have two failure modes, one is sudden failure and the other is degradation failure; the maximum temperature stress of optocoupler can't exceed 140 °C; the increase of leakage current of optocoupler is caused by movable ions contaminating the LED chip. The surface leakage current is proportional to the adsorption amount. The increase of leakage current makes p-n junction tunneling effect occur which LEDs the failure of the optocoupler. The lifetime distribution model of the optocoupler is determined by the failure physics. The lifetime of the optocoupler is subject to the lognormal distribution. The degeneracy orbit of the optocoupler leakage current is described by a power law model. The estimated values of the orbital parameters are initially calculated and the parameters of its life distribution function are deduced. The above information lays a good foundation for the optimization design and data processing of the accelerated degradation experiment. 相似文献