全文获取类型
收费全文 | 98篇 |
免费 | 12篇 |
国内免费 | 10篇 |
出版年
2023年 | 1篇 |
2022年 | 2篇 |
2020年 | 4篇 |
2019年 | 2篇 |
2016年 | 4篇 |
2015年 | 1篇 |
2014年 | 1篇 |
2013年 | 4篇 |
2012年 | 4篇 |
2011年 | 3篇 |
2010年 | 4篇 |
2009年 | 6篇 |
2008年 | 2篇 |
2007年 | 5篇 |
2006年 | 4篇 |
2005年 | 5篇 |
2004年 | 6篇 |
2003年 | 3篇 |
2002年 | 1篇 |
2001年 | 5篇 |
2000年 | 3篇 |
1999年 | 5篇 |
1998年 | 4篇 |
1997年 | 9篇 |
1996年 | 4篇 |
1995年 | 6篇 |
1994年 | 2篇 |
1993年 | 3篇 |
1992年 | 3篇 |
1991年 | 11篇 |
1989年 | 3篇 |
排序方式: 共有120条查询结果,搜索用时 31 毫秒
2.
为解决传统BC-CSRR在阻带性能上的问题,提出了一种改进型MBC-CSRR结构,并利用该结构设计了一个阻带性能优良的HMSIW滤波器。分析了加载MBC-CSRR的HMSIW等效电路和结构特性,采用有限元法对该结构的传输特性进行了仿真。结果表明:所提出的改进型MBC-CSRR在保持传统BC-CSRR优点的基础上具有更优良的阻带性能。应用该结构设计了一个三阶HMSIW带通滤波器并进行测试。结果表明:所设计的加载MBC-CSRR的HMISW滤波器具有结构紧凑、损耗低、成本低、易于集成且阻带性能优良等特点。 相似文献
3.
集成电路方波脉冲注入损伤效应实验研究 总被引:3,自引:0,他引:3
为了得到各损伤参数随脉宽的变化规律,寻找建立评价复杂EMP波形对集成电路损伤模型的依据,对2种典型的集成电路器件进行了方波脉冲注入损伤实验。结果表明:RAM6264损伤电压、电流及功率均随脉宽增大而减小,损伤能量处于某一小范围之内,可能属于能量损伤型器件;BG305损伤电压、功率随脉宽增大而减小,损伤能量随脉宽增大而增大,损伤电流处于某一个小范围之内,可能属于电流损伤型器件。 相似文献
4.
5.
6.
7.
8.
李云 《空军电讯工程学院学报》1997,(2):42-46
本文介绍了常用中规模集成电路(MSI)CT54161及CT54195的应用扩展,实现了一器件多用途,简化了时序逻辑电路的设计,给出了实例及具体实现的电路。 相似文献
9.
尹波 《空军电讯工程学院学报》1997,(1):78-83
本文着重对ATM系统的时间透明度,时延及时延抖动问题进行归纳和分析,并就如何减少时延和消除时处抖动等问题进行了初步思考,探讨。 相似文献
10.