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相似文献
 共查询到19条相似文献,搜索用时 423 毫秒
1.
集成电路ESD注入损伤效应及注入电压与能量间的关系   总被引:4,自引:0,他引:4  
利用静电放电(ESD)模拟器对集成电路芯片进行电压注入损伤效应实验,通过存贮示波器记录的波形进行乘法和积分运算,得到对应注入电压下芯片上吸收的平均峰值功率和能量。对放电电压与平均峰值能量作散点图,采用曲线拟合的方法对离散点进行拟合,针对该曲线拟合的方法进行了分析,最终建立了ESD注入电压与平均峰值能量之间的数学模型。  相似文献   

2.
利用超宽谱电磁脉冲(UW S-EMP)源对无线电引信进行辐照,辐照结果表明:超宽谱电磁脉冲不能使勤务状态下的引信意外发火,但是可以使待发状态下的引信意外发火;在辐照实验的基础上分析了超宽谱电磁脉冲与无线电引信的耦合模式和作用机理,分析得出:超宽谱电磁脉冲主要是通过后门耦合到引信电源模块,引起电源波动,使晶闸管意外导通,导致引信意外发火。根据耦合模式和作用机理对引信进行了防护加固,并对防护加固后的引信进行了辐照和仿真,结果说明:防护加固措施大大提高了引信抗超宽谱电磁脉冲的能力。  相似文献   

3.
直列爆炸序列引信是引信技术研究和发展的新领域,电子安全与解除保险装置是直列爆炸序列引信的核心。概述了国内外引信安全性设计标准和电子安全与解除保险装置发展及研究现状;分析了电子安全与解除保险装置的特点;介绍了GJB 6456-2008《引信电子安全与解除保险装置设计准则》的主要技术要求。  相似文献   

4.
针对电容近炸引信铅酸电池长储性能研究空白、性能变化不明确的问题,在介绍电池机构、激活作用过程和化学反应机理的基础上,对经5,6,7,8,9,14年工厂库房自然储存的全备引信中电池部件的高温、常温、低温状态下的放电性能进行了检测。试验结果表明,电池高低温情况下的放电性能变化趋势一致,即随着储存时间的增加电池的激活时间略有增加;最高电压有所下降,工作寿命和电压波动幅值变化不大,电压噪声个别不符合要求,经分析属试验环境引起的单脉冲噪声,电池本身无失效;另外,随温度的升高激活时间有所减小,最高电压和工作寿命略有增加。  相似文献   

5.
通过测量弹丸炮口速度和引信解除保险时间的方法得出电子时间引信远解距离。在介绍某型电子时间引信实现远距离解除保险的方法和机构工作过程的同时,对远解距离进行理论分析,并对试验引信改装的实现方法作了详细说明。在此基础上,进行了电子时间引信解除保险距离测试试验并对试验结果作了分析。  相似文献   

6.
电子时间引信检测仿真试验研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
为提高电子时间引信的检测能力,介绍了电子时间引信检测仿真试验,分析了仿真试验的原理,给出了检测仿真试验的试验方法。经实际检测表明,该检测仿真试验能够安全可靠地完成电子时间引信的日常检测任务。  相似文献   

7.
为火箭子母弹定时开舱提供了一种性能先进的电子时间引信电路系统,阐述其电路组成、工作原理和功能,并分析了该电子时间引信系统的特点。  相似文献   

8.
现代战场复杂电磁环境严重威胁无线电引信战技性能的发挥.为了提出复杂电磁环境中降低无线电引信意外发火概率的防护对策,在简要介绍了实验装置与方法的基础上,研究了无线电引信的等幅正弦波辐照效应.确定了天线及弹体是造成引信意外发火的主要能量耦合通道,引信意外发火及作用机理是:引信天线及弹体接收正弦波信号,使引信高频电路工作状态发生变化,引信检波电压波动,最终导致引信意外发火.  相似文献   

9.
介绍了迫弹电子时间引信控制系统的电路组成、工作原理及其功能,并以PIC16F873A型单片机作为控制器核心,对引信的工作过程进行控制,提高了引信的安全性和可靠性。  相似文献   

10.
介绍了电磁催泪风暴系统的结构原理,应用数值分析法确定了引信线圈的发火电压标准,结合Maxwell电磁仿真软件建立了两组发射单元模型,分析得到了引信线圈的最佳位置、最优匝数及最小间距。为确定电磁感应式引信参数提供了一种较好方案。  相似文献   

11.
静电放电(ESD)会对电子设备和系统造成严重干扰,但是在相同的放电电压下,ESD强度却会发生很大的变化。这种变化与电极接近速度、相对湿度和电弧长度等因素有关。为提高ESD实验结果的重复性,通过理论分析和实验研究了电极接近速度和相对湿度对ESD强度的影响。理论计算了两接近导体之间的自(互)电容系数、导体电势差、导体电势差随放电间隙和时间的变化率;实验研究了ESD强度(比如放电电流峰值、上升时间)随接近速度和相对湿度的变化关系。研究得出,接近速度直接决定了导体电势差随时间的变化率,同时对ESD强度产生明显影响;相对湿度会对ESD强度产生很大的影响。  相似文献   

12.
通过对TMR(Trip le Modu lar Redundancy)容错技术的分析和研究,介绍了一种基于FPGA芯片的TMR整体“硬化”技术,并分别对采用了TMR技术的电机容错控制系统和未采用TMR技术的一般电机控制系统进行了ESD EMP的辐照效应实验,得出TMR技术可有效增强控制系统抗ESD EMP能力的结论。  相似文献   

13.
Pulse Doppler (PD) fuze is widely used in current battlefield. However, with the threat of repeater jamming, especially digital radio frequency memory technology, the deficiency in the anti-repeater jamming of a traditional PD fuze increasingly emerges. Therefore, a repeater jamming suppression method for a PD fuze based on identity (ID) recognition and chaotic encryption is proposed. Every fuze has its own ID which is encrypted with different chaotic binary sequences in every pulse period of the transmitted signal. The thumbtack-shaped ambiguity function shows a good resolution and distance cut-off characteristic. The ability of anti-repeater jamming is emphatically analyzed, and the results at different signal-to-noise ratio (SNR) show a strong anti-repeater jamming ability and range resolution that the proposed method possesses. Furthermore, the anti-repeater jamming ability is influenced by processing gain, bit error rate (BER) and correlation function. The simulation result validates the theo-retical analysis, it shows the proposed method can significantly improve the anti-repeater jamming ability of a PD fuze.  相似文献   

14.
接近速度和放电电压对空气式静电放电参数的影响   总被引:1,自引:0,他引:1  
对影响空气式静电放电的一个重要因素——电弧结构进行了理论分析。在此基础上,利用新研制成功的静电放电模拟测试系统,分析了接近速度和放电电压对静电放电电流峰值、上升时间以及感应电压峰-峰值的影响。试验得出,在放电电压一定的情况下,放电电流峰值和感应电压峰-峰值随接近速度的增大而增大;上升时间随接近速度的增大而减小。这些试验结果为建立静电放电抗扰度试验新方法提供了依据。  相似文献   

15.
对高频小功率硅双极结型晶体管2SC3356进行静电放电试验,并利用加速寿命试验原理对两组器件进行加速寿命试验。采用Arrhenius模型对试验结果进行计算分析,发现低于损伤阈值的ESD注入可以使器件的寿命缩短,得出ESD可以在高频小功率硅双极结型晶体管内部造成潜在性失效,使得器件寿命缩短。  相似文献   

16.
对人体 -金属ESD模型和家具ESD模型进行了讨论 ,介绍了其放电电流波形的主要特点及影响它们的主要因素。利用单极子天线和数字存储示波器对静电放电产生的电磁脉冲辐射场进行了实验研究。实验表明 ,ESD的辐射场在距离放电源几米以内是很短的窄脉冲 ,其脉冲持续时间约为几百ns,但其场强很大 ,典型可达几kV/m (在 1 8cm处 ) ,一般在约几百V/m (在 1 5m以内 ) ,共频谱主要分布在几十到几百MHz,频谱上限可以达到几个GHz.  相似文献   

17.
FPGA静电电磁脉冲辐照效应试验研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
根据国际电工委员会IEC61000-4-2标准,利用ESS-200AX型ESD模拟器,选用人体-金属模型,测试静电电磁脉冲(ESD EMP)对FPGA的影响,并针对试验结果对故障原因进行分析。试验结果表明:FPGA集成电路抗静电电磁脉冲能力较强,当在FPGA集成电路周围的静电放电电压达到13 kV时,静电电磁脉冲将破坏SRAM的查找表中的数据,致使FPGA功能性损坏,但重新加电可恢复正常。  相似文献   

18.
舰炮对海上集群小目标射击的毁伤概率   总被引:1,自引:0,他引:1  
海上集群小目标是水面舰艇面临的主要威胁之一。以单管大口径舰炮对海上集群小目标射击作为研究对象,对集群目标进行了等效处理,分析了弹种、引信和装药的选择以及效力射中的表尺分配问题,提出多表尺效力射方法,利用该方法对海上集群小目标射击的毁伤概率进行了分析。结果表明,采用该方法并使用空炸榴弹或杀伤爆破弹,可有效破坏敌运输工具,杀伤其有生力量。  相似文献   

19.
一种用于ESD测试的PLC单轴运动控制台研究   总被引:2,自引:2,他引:0  
研制了一种以可编程控制器 (PLC) 作为控制单元的单轴控制台。这种单轴控制台有效控制了静电放电(ESD) 模拟器空气放电电极的运动状态, 为ESD测试实验提供了一种新的手段, 并与手持放电方式进行了实验比较。  相似文献   

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